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高場寬頻譜介電測量系統(tǒng)當通過LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測量介電常數(shù)時，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對于加載的電場具有非線性響應；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。

高分子壓電系數(shù)測試儀其分辨率可達0.01pC/N，采用多種測量模式，在測量壓電系數(shù)的同時，可記錄d31, d15, 電容、電量、tan δ等參數(shù)，并也可計算g33、g31和g15，介電常數(shù)和εT33等。用于鐵電、壓電、高分子薄膜材料以及相關器件性能的評價與測試；