OLED發光效率測量系統

OLED發光效率測量系統

產品名稱：OLED/LED電致發光/光致發光測量系統，EL/PL測量系統，多角度光譜測量系統，發光效率測量系統，發光光譜測量系統，外量子效率測量系統。

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發光器件的發射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系，計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。

技術優勢

• 角度依賴的PL光致發光譜分析

• 角度依賴的EL電致發光譜分析

• 角度依賴的發光分析

• 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件

• p- and s-偏振態檢測

• 偏振角度連續掃描

• 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析

• 兼容各種幾何尺寸樣品

• 樣品便捷對準

• 可與Setfos結合，對發光層進行分析

測量功能

• 顏色效率分析

• 可視角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 發光效率Cd/A

• 發光區域擬合

• 發光趨向分析

• 發光特性角度依賴分析

• 光譜和顏色VS. 發射角

• 發光層中偏振態分析

• 散射特性分析

• 工作點

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐標

• 色溫和顯色指數等分析

• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

• 光譜輻照度/強度

• 輻射強度

• 亮度

技術規格