電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)

電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)基于改進優(yōu)化的動態(tài)Sawyer-Tower電路開發(fā)的該系統(tǒng)，用于測量介電和鐵電材料的電荷密度與電場及頻率的關系；

系統(tǒng)特點：
1）整合了系統(tǒng)保護電路：當試樣在高壓測試發(fā)生擊穿時，可有效的保護測試系統(tǒng)；
2）配合Trek高壓放大器執(zhí)行測試時，高壓>10kV,并且頻率可達1000Hz,可擴展到300kHz；
3）高壓擊穿測試可在AC、DC或者Field endurance life模式下測試，而且只需簡單的切換信號連接即可；
4）自動鐵電性能測試直至介電擊穿發(fā)生；
5）對于介電材料充放電測試，軟件能自動給出充電能量密度和放電能量密度，以及充放電效率；
6）對于壽命循環(huán)測試（DC模式或者AC模式），系統(tǒng)會自動生成測試總結文件；
7）夾具設計，確保即使測試軟的高分子介電材料也不會損傷樣品；
8）基于LabView設計的功能強大的軟件系統(tǒng)，用戶可方便地控制電壓、信號波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和頻率；

電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)

技術規(guī)格：
1）內置電壓：±100V or ±200V放大器
2）電壓放大器>10kV to 30kV
3）電荷：<1nc to="">1mC(取決于放大器輸出)
4）測試頻率：0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.
5）壓電應變測量選件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁電傳感器；
6）高壓變溫測試選件：-184℃ to 250℃；